冷熱沖擊試驗(yàn)箱的條件及試驗(yàn)?zāi)康?/h1>

冷熱沖擊試驗(yàn)箱的條件及試驗(yàn)?zāi)康?/span>

冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐寒試驗(yàn)、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)箱，特別適用于進(jìn)行電工、電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）試驗(yàn)。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫、低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度。

一、冷熱沖擊箱試驗(yàn)?zāi)康模捍_定測(cè)試產(chǎn)品在周圍大氣溫度急劇變化時(shí)的適應(yīng)性及被破壞性。

二、試驗(yàn)條件：高溫箱：RT～200℃，低溫箱：RT～-20℃，試驗(yàn)溫度保持時(shí)間：1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長(zhǎng)者為準(zhǔn),循環(huán)次數(shù)：針對(duì)各個(gè)不同行業(yè)不同廠家所對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)要求不一樣，按照標(biāo)準(zhǔn)上的試驗(yàn)方法測(cè)試。

三、恢復(fù)：測(cè)試產(chǎn)品從冷熱沖擊箱內(nèi)取出后，應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。

四、對(duì)冷熱沖擊箱的要求：

  1、采用高溫箱和低溫箱進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn),以提供試驗(yàn)樣品經(jīng)受周圍空氣溫度急劇發(fā)生變化的環(huán)境溫度。

  2、高溫區(qū)的要求,應(yīng)符合GJB150.3-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》的第3章各條所規(guī)定的要求。

  3、低溫區(qū)的要求，應(yīng)符合GJB150.4-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》的第3章各條所規(guī)定的要求。

  4、冷熱沖擊箱提供高溫試驗(yàn)部分和低溫試驗(yàn)部分,應(yīng)分別符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的第3章各條所規(guī)定的要求。

  5、試驗(yàn)箱的容積應(yīng)保證在試驗(yàn)樣品放入候補(bǔ)超過(guò)試驗(yàn)溫度保持時(shí)間的10%就能使試驗(yàn)箱（室）溫度達(dá)到GJB150.1-89中3.2條規(guī)定的試驗(yàn)條件容差范圍之內(nèi)。低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時(shí)間≤15s；溫度恢復(fù)時(shí)間≤5min。

五、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

1. GB10589-89；

2. GB2423.1-89；

3. GB2423.2-89；

4. GJB150.3-86；

5. GJB150.4-86；

6. GJB150.5-86；

六、設(shè)備使用環(huán)境

環(huán)境溫度：5℃～＋28℃（24小時(shí)內(nèi)平均溫度≤28℃）；

環(huán)境濕度：≤85%；

電源要求：AC380（ ±10%）V/50HZ   三相四線制；

操作環(huán)境需要在室溫28度以下而且通風(fēng)良好；

機(jī)器放置前后左右各80公分不可放置東西；